研究称一种大脑基因受损可形成自闭症(图)
2008-3-22 11:05:53  腾讯科技

大脑神经元叫做“contactin 4”基因受损可导致自闭症

　腾讯科技讯　据国外媒体3月20日报道，近日，美国研究人员宣称，与大脑功能建立连接的一种基因可能对于形成自闭症具有重要意义。

一种叫做“contactin 4”基因的瓦解损失将停止其正常工作，并使大脑正常的工作网络中断。这项研究报告发表在《医学遗传学》杂志上。负责此项研究的纽约州立大学石溪分校伊莱?哈奇韦尔博士称，儿童体内出现三组contactin 4基因瓦解或者三组中有一组瓦解，均将导致2.5%患自闭症的几率。

哈奇韦尔在一次电话采访中说，“通常人们都错误地认为自闭症是由于后天因素导致的，并没有想到这种病症会与遗传基因突变有联系。”他表示将这项研究添加到了自闭症潜在测试列表之中，或许将有助于对泛自闭症的治疗。泛自闭症是一种会影响儿童多方面功能的发育障碍，此障碍特征是沟通技巧迟缓、社交互动和思维想像能力出现障碍。